一、介電常數(shù)介質(zhì)損耗試驗機參數(shù)設(shè)置
1. 頻率范圍:根據(jù)測試材料和應(yīng)用標(biāo)準(zhǔn)選擇(如工頻50Hz/60Hz或高頻1kHz-1MHz)。
2. 測試電壓:按標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置(低壓材料100V-1kV,高壓絕緣材料可達10kV以上)。
3. 溫度控制:高溫測試需設(shè)定溫度范圍(如-40℃至200℃)及溫升速率。
4. 電極配置:選擇平行板、同軸電極等,確保與樣品尺寸匹配。
5. 測試模式:自動掃描或定點頻率測試,設(shè)置數(shù)據(jù)采集間隔。
二、介電常數(shù)介質(zhì)損耗試驗機符合標(biāo)準(zhǔn)
- 國際標(biāo)準(zhǔn):
- IEC 60250(電介質(zhì)材料測試)
- ASTM D150(固體電絕緣材料)
- IEEE 286(電力設(shè)備介質(zhì)損耗)
- 國內(nèi)標(biāo)準(zhǔn):
- GB/T 1409(絕緣材料介電性能)
- GB/T 1693(硫化橡膠介電常數(shù)測試)
- 行業(yè)應(yīng)用:
- 電力設(shè)備(變壓器、電纜):IEEE/GB
- 電子材料(PCB、薄膜):IEC/ASTM
- 航空航天:MIL-STD-883
三、介電常數(shù)介質(zhì)損耗試驗機工作原理
1. 介電常數(shù)(ε):通過測量電容變化計算材料儲能能力,公式:ε = C樣品 / C真空。
2. 介質(zhì)損耗因數(shù)(tanδ):利用電橋法或諧振法檢測電流相位差,反映能量損耗。
- 電橋法:調(diào)節(jié)電橋平衡,通過電抗比計算tanδ。
- 諧振法:測量LC諧振回路Q值,Q值倒數(shù)正比于tanδ。
3. 信號源與檢測:高頻信號源激勵樣品,高精度傳感器采集電壓/電流相位差。
四、儀器特點
1. 高精度測量:采用鎖相放大技術(shù),tanδ分辨率達0.0001,ε誤差小于0.5%。
2. 寬頻覆蓋:支持0.1Hz-10MHz,滿足從電力設(shè)備到射頻材料的全場景需求。
3. 智能溫控系統(tǒng):PID控溫±0.5℃,支持升降溫曲線編程。
4. 多重安全防護:過壓/過流/電弧保護,自動放電功能防止殘余電荷。
5. 自動化操作:內(nèi)置標(biāo)準(zhǔn)測試流程,支持?jǐn)?shù)據(jù)導(dǎo)出(Excel/LabVIEW兼容)。
五、操作步驟
1. 樣品準(zhǔn)備:
- 裁剪樣品至標(biāo)準(zhǔn)尺寸(如直徑50mm圓片),表面清潔無雜質(zhì)。
- 涂導(dǎo)電銀膠確保電極接觸,高溫樣品需預(yù)烘除濕。
2. 儀器初始化:
- 開機預(yù)熱30分鐘,檢查接地線電阻<1Ω。
- 安裝電極并設(shè)置間距(根據(jù)樣品厚度自動/手動調(diào)節(jié))。
3. 參數(shù)設(shè)置:
- 選擇測試標(biāo)準(zhǔn)(如GB/T 1409),自動加載默認(rèn)參數(shù)。
- 手動調(diào)整:頻率1kHz,電壓500V,溫度25℃(典型設(shè)置)。
4. 校準(zhǔn)流程:
- 短路校準(zhǔn):清零寄生電容。
- 標(biāo)準(zhǔn)電容校準(zhǔn)(如100pF標(biāo)準(zhǔn)件)。
5. 測試執(zhí)行:
- 啟動自動掃描,實時顯示ε和tanδ曲線。
- 異常處理:出現(xiàn)電弧立即停止,檢查樣品平整度。
6. 數(shù)據(jù)記錄:
- 保存原始數(shù)據(jù)及環(huán)境參數(shù)(溫度/濕度記錄)。
- 生成報告:包含平均值、標(biāo)準(zhǔn)差及合規(guī)性判定。
六、保養(yǎng)技巧
1. 日常維護:
- 每日使用后清潔電極(無水乙醇擦拭),檢查電纜絕緣層。
- 每月校準(zhǔn)一次,使用NIST可追溯標(biāo)準(zhǔn)件。
2. 環(huán)境管理:
- 恒濕(40-60% RH)防潮,配備除濕機。
- 防震:安裝防震臺,避免高頻測試時機械干擾。
3. 長期停用:
- 斷開電源,電極涂防氧化油。
- 每季度通電2小時維持電容活性。
4. 故障排查:
- 數(shù)據(jù)漂移:檢查溫控系統(tǒng)熱電偶,清潔電極接觸面。
- 無信號輸出:測試保險管,驗證信號源模塊狀態(tài)。
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